Издательство: Академия
Год выпуска: 2008
ISBN: 978-5-7695-4227-5
Формат: 60x90/16
Кол-во страниц: 400
Описание: Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники: получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
Цена: 767 руб.
Знаете ли Вы, что ...
Хроническое заболевание
Хроническое заболевание (chronic) - термин используется для описания длительно протекающего заболевания с медленно возникающими ...
Опасный производственный фактор
Опасный производственный фактор - производственный фактор, воздействие которого на работника может привести к его травме (ст. ...
Напряженность труда
Напряженность труда - характеристика трудового процесса, отражающая нагрузку преимущественно на центральную нервную систему, ...
