Издательство: Академия
Год выпуска: 2008
ISBN: 978-5-7695-4227-5
Формат: 60x90/16
Кол-во страниц: 400
Описание: Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники: получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
Цена: 767 руб.
Знаете ли Вы, что ...
Тяжесть труда
Тяжесть труда - характеристика трудового процесса, отражающая преимущественную нагрузку на опорно-двигательный аппарат и ...
Охрана труда
Охрана труда - система обеспечения безопасности жизни и здоровья работников в процессе трудовой деятельности, включающая ...
Обострение
Обострение (recrudescence) - рецидив заболевания после периода клинического улучшения или ремиссии ...
Напряженность труда
Напряженность труда - характеристика трудового процесса, отражающая нагрузку преимущественно на центральную нервную систему, ...
Компенсация
Компенсация (compensation) - возмещение какого-либо функционального или структурного недостатка. Например, компенсация ...
Эпидемиология
Эпидемиология (от греч. epi - в, на и demos - народ и logos - наука) - наука, изучающая причины возникновения и закономерности ...
