Издательство: Академия
Год выпуска: 2008
ISBN: 978-5-7695-4227-5
Формат: 60x90/16
Кол-во страниц: 400
Описание: Изложены основы квантовой механики, фрактальной геометрии и фрактальной физики, нелинейной динамики. Рассмотрены физические основы основных технологических процессов микро- и наноэлектроники: получение тонкопленочных структур, создание и перенос литографического изображения, методы модификации поверхностных и объемных структур, основы и методы контроля и метрологии. Для студентов высших учебных заведений.
Цена: 767 руб.
Знаете ли Вы, что ...
Условия труда
Условия труда - совокупность факторов производственной среды и трудового процесса, оказывающих влияние на работоспособность и ...
Рабочее время
Рабочее время - время, в течение которого работник в соответствии с правилами внутреннего трудового распорядка и условиями ...
Опасный производственный фактор
Опасный производственный фактор - производственный фактор, воздействие которого на работника может привести к его травме (ст. ...
Воспаление
Воспаление (inflammation) - реакция организма на повреждение (может быть острой или хронической). Острое воспаление (acute ...
Эубиоз
Эубиоз - динамическое равновесие микрофлоры и организма человека.
